Prinsip Dasar dan Aplikasi Metode Difraksi Sinar-X untuk Karakterisasi Material

Fisika
Prinsip Dasar dan Aplikasi Metode Difraksi Sinar-X untuk Karakterisasi Material

2 MB
ebook
41 Dilihat
Wishlist
Bagikan

Sinopsis

Buku ini berisi 9 bab yang membahas antara lain: Karakteristik dasar sinar X dan hamburan sinar X yang dihasilkan akibat interaksi sinar X dengan materi (elektron, atom, dan kristal) Aplikasi difraksi sinar X untuk karakterisasi material di berbagai bidang penelitian dan analisis Kajian tentang kristal dengan parameter kristal Mekanisme produksi sinar X, mekanisme filtrasi radiasi sinar X karakteristik oleh logam filter, dan mekanisme kristal menghasilkan difraktogram sinar X. Bagian-bagian penting dalam difraktometer sinar X. Penentuan jenis komponen kristal penyusun materi pacat (analisis kualitatif). Kristalinitas. Ukuran kristal dan regangan kisi. Jumlah komponen kristal yang membentuk padat (analisis kuantitatif).

Tags:
Keyword:
Penerbit
ISBN
978-602-432-431-5
eISBN
978-602-432-432-2

Untuk membaca, silahkan unduh aplikasi di bawah ini:

playstore windows appstore macos macos-mx

Orang Lain Juga Membaca Buku Ini

Buku Lainnya dari Tutik Setianingsih; Sutarno

Selengkapnya

Buku Lainnya dari Penerbit UB PRESS

Selengkapnya

Buku Lainnya dari Kategori Matematika dan Sains

Selengkapnya

Buku Lainnya dari Sub Kategori Fisika

Selengkapnya

Buku Terbaru

Buku Terpopuler

Selengkapnya

Buku Gratis

Prinsip Dasar dan Aplikasi Metode Difraksi Sinar-X untuk Karakterisasi Material

Prinsip Dasar dan Aplikasi Metode Difraksi Sinar-X untuk Karakterisasi Material

Tutik Setianingsih; Sutarno

Preview
Hubungi Kami
cara-membaca-buku